SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪

产品简介

      SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在频（1MHz）下绝缘材料的测试。

产品特点

      SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内的160MHz。 SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术：

◎双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

◎双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

◎双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

◎自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

◎全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

◎DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的葆真，频率的精确、幅度的稳定。

◎计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

◎电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。

◎大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。

　　SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事频电子设计的工程师、科研人员、校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。

产品参数